ARAMIS Technology

三维测试

ARAMIS – 高精度三维分析系统

ARAMIS 系统是一款基于数字图像相关法(DIC)的测量系统,用于对静态或动态荷载状态下的样本和部件进行非接触式测量。测量不受所用材料影响,且无需昂贵、耗时的测试准备工作。这使得 ARAMIS 成为产品开发、材料研究和部件测试应用的理想选择。

该系统能以亚微米级的三维分辨率执行高精度测量。测量结果可呈现部件或样本的材料特性,以及部件在负载条件下的行为特性。这些测量结果包括精确的三维坐标、位移、速度和加速度、材料延伸,以及6自由度测量(6DoF)。通过这些测量数据,可以确定材料特性,验证有限元计算,记录部件碰撞情况,检查移动轨迹以及分析零件扭曲情况。

 

ARAMIS Adjustable

定制化的系统配置
该系统同时配备二维和三维测量头,是对静态和动态荷载下的部件进行全场和基于点的分析的理想选择。另外,通过灵活调整测量体积和测量距离,测量头可以自如应对各种测量任务。双 LED 照明灯具备同样灵活度,能从各个角度击破样本的视觉照明盲区。因此,ARAMIS Adjustable 系统十分适合从事大量应用工作的研究机构和大专院校。其多样化装置能满足极小型至大型物体的测量。

 

ARAMIS SRX

独一无二的测量头
ARAMIS SRX 是一款高分辨率三维照相系统,专为全场和基于点的测量而设计。测量头每秒可拍摄多达 2,000 幅图像,且设计结构坚固,工艺稳定,易于使用,是适用于工业环境高端应用的理想测量系统。ARAMIS SRX 在全分辨率时图像记录速率可达335 Hz 。在降低像素的情况下,图像记录速率可以提高到 2,000 Hz,从而可以在间隔时间内,详细记录部件在整个变形和失效过程中的图像数据。
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https://www.gom.com/metrology-systems/aramis.html

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