ARAMIS Technology

三维测试

ARAMIS – 高精度三维分析系统

ARAMIS 系统是一款基于数字图像相关法（DIC）的测量系统，用于对静态或动态加载的样本和组件进行非接触式测量。测量不受所用材料影响，且无需昂贵、耗时的测试准备工作。这使得 ARAMIS 成为产品开发、材料研究和部件测试应用的理想选择。

该系统能以亚微米级的三维分辨率执行高精度测量，为样本和组件提供准确的三维坐标，三维位移，速度，加速度，表面应变和6自由度（6DoF）评估，展现材料属性和负载条件下的行为特性。这些测量数据为确定材料特性，验证有限元计算，记录部件碰撞情况，检查运动轨迹，分析部件变形提供基础。

 

ARAMIS Adjustable

定制化的系统配置
ARAMIS Adjustable 系统同时配备二维和三维测量头，适用于对静态和动态荷载下的组件进行全场和基于点的分析。测量头设置灵活，可根据不同测量任务，快速调整测量体积和测量距离。安装在连接支座上的双 LED 灯同样具备高度灵活性，可从各个角度为物体提供最佳照明。因此非常适用于各类研究机构和大学院校的研究工作。其灵活、多样化的设置满足极小型至大型物体的测量需求。

 

ARAMIS SRX

独一无二的测量头
ARAMIS SRX 是一款高分辨率三维照相系统，专为全场和基于点的测量而设计。测量头每秒拍摄多 达 2000 幅图像，设计结构坚固，工艺稳定，易于使用，是适用于工业环境高端应用的理想测量系统。ARAMIS SRX 在全分辨率时图像记录速率可达335 Hz 。在降低像素的情况下，图像记录速率可以提高到 2000 Hz，从而可以在间隔时间内，详细记录部件在整个变形和失效过程中的图像数据。
了解更多 ARAMIS SRX