计算机断层扫描进一步简化

CT 技术更上一层楼

通过 METROTOM 1 和 GOM Volume Inspect 领略 CT 技术

计算机断层扫描 (CT) 通常被认为是一项复杂的技术,伴随着蔡司X 射线系列新成员——METROTOM 1 和强大的 CT 处理软件 GOM Volume Inspect 的加入,这项复杂的技术得到了极大的简化。METROTOM 1 尺寸紧凑,性价比颇具吸引力,结合 GOM Volume Inspect 软件的易用性,可实现从数据采集到检测的全工作流程,是工业计算机断层扫描技术的入门之选。

Dr. Dominik Stahl,GOM布伦瑞克总部CT开发部门负责人

Dr. Dominik Stahl,GOM布伦瑞克总部CT开发部门负责人

Dr. Petra Schmidt,蔡司工业质量解决方案部门X射线业务领域负责人

Dr. Petra Schmidt,蔡司工业质量解决方案部门X射线业务领域负责人

客户对 METROTOM 1 有何期待?

Dominik Stahl 博士:一直以来,CT技术因其成本较高而让部分企业,尤其是中型企业望而却步。我们的目标是开发一种创新型产品,可帮助用户轻松驾驭 CT 技术。它的目标是为零件和材料检测提供一种易于使用的,灵活的测量系统。从这个角度来看,新系统完美填补了 ZEISS X 射线系列产品的空白。

Petra Schmidt 博士:这款独特的产品基于创新理念而生,具有撼动和改变市场的潜力。客户可以通过该系统更加轻松地使用相对比较复杂的 CT 技术。即使缺少相关经验也可以操作 CT 设备,并受益于 X 射线带来的技术优势。例如,使用该设备检测内部缺陷,测量内部结构和壁厚。

全新 METROTOM 1 还具有哪些优势?

Dominik Stahl 博士:METROTOM 1 搭载GOM Volume Inspect 软件,两者达成了软硬件的完美契合。这种完善,一致的解决方案确保从测量数据获取到评估的整个过程的易操作性。

Petra Schmidt 博士:除了易于使用外,METROTOM 1 的特点是尺寸紧凑和维护要求较低。这意味着,即使小型企业也可以将 CT 系统集成到他们的测量室中。维护要求低则有助于最大限度降低运营成本,这使METROTOM 1 的总体性价比颇具吸引力。


METROTOM 1 和 GOM Volume Inspect 软硬件结合

GOM Volume Inspect 最吸引人的地方是什么?

Dominik Stahl 博士:GOM Volume Inspect  的功能更加多样。在最新版本中,软件配备的有关体积的功能将显著增加。这将满足许多客户需求。在进行计量评估时,用户不再需要使用额外的软件来获取更详细的数据分析。这为客户节省了成本。

Petra Schmidt 博士:在计量评估方面,GOM Volume Inspect 是一款非常成熟的软件。它强大的操作功能深受客户青睐,而且用户界面友好,非常具有现代感。一些从蔡司购买了CT系统的客户已经开始使用 GOM Volume Inspect 软件进行评估。未来,我们将实现包括培训和服务在内的一站式产品供应。

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