工業用計測CT
GOMとZEISS 見えないものを視覚化する
コンピュータ断層撮影における技術革新
X線に対するビジョン。GOMとZEISS、どちらも 見えないものを見える化するソリューションをお客様に提供するビジョンを持っていました。今、両社は専門知識を結集しこのビジョンを次のレベルに引き上げようとしています。お客様には既にプラスの効果が表れています。
Dominik Stahl博士はGOMブラウンシュバイク本社でCT開発の担当をしています。
Petra Schmidt博士はZEISS Industrial Quality SolutionsのX線事業責任者です。
GOMはZEISSのX線システムポートフォリオにどのような強みをもたらすことができますか？
Dominik Stahl博士: 我々はパワフルなアルゴリズムとソフトウェアを生み出すことに長けています。GOM Inspectでは毎年ソフトウェアをバージョンアップし強力なソリューションを市場に投入しています。2020年版のリリースではボリュームデータ評価のための多数の検査機能が追加されています。この開発は共通の成功に向けて強力な貢献ができると考えています。
Petra Schmidt博士: 評価ソフトウェアに関しては非常に関連性が高いトピックです。GOM Inspectは当社のX線ポートフォリオに大きな価値をもたらします。
GOM Inspectの魅力は何ですか?
Petra Schmidt博士: 計測データの評価においてGOM Inspectは定評のあるソフトウェアソリューションです。お客様は強力な機能を高く評価しています。また現代的なユーザーインターフェースも備えています。ZEISSのCTをお持ちのお客様の中には評価用にGOM Inspectをご利用頂いているお客様もいらっしゃいます。将来的にはトレーニングやサービスも含め、一本化して提供できるようになります。
Dominik Stahl博士: GOM Inspectは更に汎用性が高くなっています。新バージョンでは更に多くのお客様にお応えできるよう、ボリュームデータ処理機能を多数用意しています。詳細なデータ分析のための追加ソフトウェアは必要ありません。お客様はコストを節約することができます。